Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8696

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH

Zobrazovaná měna: Kč

Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 8696" dle:

Zadejte číslo normy nebo text, který hledáte:

Roku vydání

Platné (13282)

Neplatné (76195)

Náhled normy

ASTM F670-87(1994)e1 Historická

Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1994

Vybrané provedení:

Anglicky -

PDF - okamžité stažení (1514.70 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 514.70 Kč

SKLADEM

Náhled normy

ASTM F671-99 Historická

Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1999

Vybrané provedení:

Anglicky -

PDF - okamžité stažení (1514.70 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 514.70 Kč

SKLADEM

Náhled normy

ASTM F672-01 Historická

Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001

Vybrané provedení:

Anglicky -

PDF - okamžité stažení (1888.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 888.20 Kč

SKLADEM

Náhled normy

ASTM F672-88(1995)e1 Historická

Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Includes all amendments And changes 3/2/2021).

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001

Vybrané provedení:

Anglicky -

PDF - okamžité stažení (1888.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 888.20 Kč

SKLADEM

Náhled normy

ASTM F673-02 Historická

Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002

Vybrané provedení:

Anglicky -

PDF - okamžité stažení (1722.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 722.20 Kč

SKLADEM

Náhled normy

ASTM F673-90(1996)e1 Historická

Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996

Vybrané provedení:

Anglicky -

PDF - okamžité stažení (1888.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 888.20 Kč

SKLADEM