Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Practice for Determining Safe Current Pulse Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Withdrawn 1995)
Vybrané provedení:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components [Metric]
NEPLATNÁ vydána dne 15.5.1995
Vybrané provedení:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components [Metric]
NEPLATNÁ vydána dne 15.5.1995
Vybrané provedení:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric)
NEPLATNÁ vydána dne 15.6.2008
Vybrané provedení:Standard Practice for Determining Safe Current Pulse-Operating Regions for Metallization on Semiconductor Components (Metric) (Withdrawn 2022)
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2013
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1992
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current (Metric)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring MOSFET Drain Leakage Current (Metric) (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring MOSFET Linear Threshold Voltage (Withdrawn 2006)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Method for Measuring MOSFET Saturated Threshold Voltage (Withdrawn 1985)
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 16.09.2025 (Počet položek: 2 234 278)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.