ASTM - Americké technické normy - strana 8661

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8661

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 8661" dle:    


ASTM F995-97(2001) Historická

Standard Practice for Estimating Toner Usage in Copiers Utilizing Dry Two-Component Developer

NEPLATNÁ vydána dne 10.7.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 767.90


SKLADEM
ASTM F995-97(2001)e1 Historická

Standard Practice for Estimating Toner Usage in Copiers Utilizing Dry Two-Component Developer (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 10.7.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 010.10


SKLADEM
ASTM F995-97(2006) Historická

Standard Practice for Estimating Toner Usage in Copiers Utilizing Dry Two-Component Developer

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2006

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 010.10


SKLADEM
ASTM F996-10 Historická

Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 010.10


SKLADEM
ASTM F996-11 Historická

Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 010.10


SKLADEM
ASTM F996-11(2018) Historická

Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics (Withdrawn 2023)

NEPLATNÁ vydána dne 1.3.2018

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 010.10


SKLADEM
ASTM F996-98 Historická

Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics

NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 010.10


SKLADEM
ASTM F996-98(2003) Historická

Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics

NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 010.10


SKLADEM
ASTM F997-10 Historická

Standard Specification for Polycarbonate Resin for Medical Applications

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 767.90


SKLADEM
ASTM F997-98a Historická

Standard Specification for Polycarbonate Resin for Medical Applications (Includes all amendments And changes 3/2/2021).

NEPLATNÁ vydána dne 10.10.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 767.90


SKLADEM

Zobrazen záznam od 86600 až 86610 z celkem 87707 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.