Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Characterizing Semiconductor Deep Levels by Transient Capacitance Techniques (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2001
Vybrané provedení:Standard Test Method for Characterizing Semiconductor Deep Levels by Transient Capacitance Techniques (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2001
Vybrané provedení:Standard Test Method for Hermeticity of Hybrid Microcircuit Packages Prior to Lidding (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998
Vybrané provedení:Standard Test Method for Hermeticity of Hybrid Microcircuit Packages Prior to Lidding (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998
Vybrané provedení:Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Withdrawn 1990)
Vybrané provedení:Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1977
Vybrané provedení:Recommended Practices for Determining Hermeticity of Electron Devices by a Bubble Test (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1977
Vybrané provedení:Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996
Vybrané provedení:Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices (Includes all amendments And changes 2/2/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 1.12.2010
Vybrané provedení:Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
NEPLATNÁ vydána dne 1.12.2016
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 19.12.2024 (Počet položek: 2 216 019)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.