Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Terminology Relating to Vacuum Cleaners
NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2010
Vybrané provedení:Standard Terminology Relating to Vacuum Cleaners
NEPLATNÁ vydána dne 1.3.2018
Vybrané provedení:Standard Practice for Comparing One-Time Noncorrectable Typewriter Ribbons
NEPLATNÁ vydána dne 10.2.2000
Vybrané provedení:Standard Practice for Comparing One-Time Noncorrectable Typewriter Ribbons
NEPLATNÁ vydána dne 1.12.2004
Vybrané provedení:Standard Practice for Comparing One-Time Noncorrectable Typewriter Ribbons (Withdrawn 2015)
NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2009
Vybrané provedení:Standard Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1999
Vybrané provedení:Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997
Vybrané provedení:Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 15.5.1992
Vybrané provedení:Standard Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers (Withdrawn 2002) (Includes all amendments And changes 2/18/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2000
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 22.12.2024 (Počet položek: 2 217 000)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.