Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Measuring Thickness of Resilient Floor Covering With Foam Layer
NEPLATNÁ vydána dne 15.3.2011
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Thickness of Resilient Floor Covering With Foam Layer
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2017
Vybrané provedení:Standard Test Method for Thickness of Resilient Flooring Materials Having Flat Surfaces
NEPLATNÁ vydána dne 10.4.2002
Vybrané provedení:Method for Measurement of Oxide Thickness on Silicon Wafers and Metallization Thickness by Multiple-Beam Interference (Tolansky Method) (Withdrawn 1993)
Vybrané provedení:Methods of Testing Compressed Asbestos Sheet Packing (Withdrawn 1978)
Vybrané provedení:Standard Test Method for Sheet Resistance of Thin Metallic Films With a Collinear Four-Probe Array (Withdrawn 2020)
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2011
Vybrané provedení:Standard Test Method for Sheet Resistance of Thin Metallic Films With a Collinear Four-Probe Array
NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998
Vybrané provedení:Standard Test Method for Sheet Resistance of Thin Metallic Films With a Collinear Four-Probe Array
NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 22.12.2024 (Počet položek: 2 217 000)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.