Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Water Vapor Transmission Rate of Flexible Barrier Materials Using an Infrared Detection Technique
NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1999
Vybrané provedení:Standard Test Method for Water Vapor Transmission Rate of Flexible Barrier Materials Using an Infrared Detection Technique (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1999
Vybrané provedení:Standard Test Method for Embossed Depth of Resilient Floor Coverings
NEPLATNÁ vydána dne 10.3.2001
Vybrané provedení:Standard Test Method for Embossed Depth of Resilient Floor Coverings
NEPLATNÁ vydána dne 15.10.2006
Vybrané provedení:Standard Test Method for Embossed Depth of Resilient Floor Coverings
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2013
Vybrané provedení:Standard Test Method for Embossed Depth of Resilient Floor Coverings
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2017
Vybrané provedení:Standard Test Method for Embossed Depth of Resilient Floor Coverings (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 10.3.2001
Vybrané provedení:Standard Test Method for Sheet Resistance of Silicon Epitaxial, Diffused, Polysilicon, and Ion-implanted Layers Using an In-Line Four-Point Probe with the Single-Configuration Procedure (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2000
Vybrané provedení:Standard Test Method for Sheet Resistance of Silicon Epitaxial, Diffused, Polysilicon, and Ion-implanted Layers Using an In-Line Four-Point Probe with the Single-Configuration Procedure (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Specification for Integrated Circuit Lead Frame Material (Withdrawn 2023)
NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2020
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 21.12.2024 (Počet položek: 2 216 840)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.