Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8262
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
ASTM F530-81(1987)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Test Method for Wavefront Distortion of Laser Rods (Withdrawn 1994)
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F531-81(1987)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Test Method for Wavefront Distortion and Face Parallelism of Laser Disks (Withdrawn 1994)
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F532-81(1987)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Withdrawn 1994)
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F532-81(1987)e1
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1987
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F533-02
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F533-02a
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F533-96
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F534-02
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F534-02a
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F534-97
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Bow of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
