ASTM - Americké technické normy - strana 8134

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8134

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 8134" dle:    


ASTM F1892-12 Historická

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2012

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 706.80


SKLADEM
ASTM F1892-98 Historická

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 497.00


SKLADEM
ASTM F1893-11 Historická

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 741.60


SKLADEM
ASTM F1893-18 Historická

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices (Withdrawn 2023)

NEPLATNÁ vydána dne 1.3.2018

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 741.60


do 1 pracovních dnů
ASTM F1893-98 Historická

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 741.60


SKLADEM
ASTM F1893-98(2003) Historická

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices

NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 741.60


SKLADEM
ASTM F1894-98 Historická

Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness

NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 741.60


SKLADEM
ASTM F1894-98(2003) Historická

Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness

NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 741.60


SKLADEM
ASTM F1894-98(2011) Historická

Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness (Withdrawn 2020)

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 741.60


SKLADEM
ASTM F1895-10 Historická

Practice for Submersion of a Membrane Switch

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 531.80


SKLADEM

Zobrazen záznam od 81330 až 81340 z celkem 89938 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.