(1809.60 CZK)
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8092
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
ASTM F1617-98(2002)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Measuring Surface Sodium, Aluminum, Potassium, and Iron on Silicon and EPI Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1618-02
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Practice for Determination of Uniformity of Thin Films on Silicon Wafers (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.5.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1618-96
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Practice for Determination of Uniformity of Thin Films on Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1619-95(2000)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle
NEPLATNÁ vydána dne 15.9.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1619-95(2000)e1
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 15.9.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1620-96
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Practice for Calibrating a Scanning Surface Inspection System Using Monodisperse Polystyrene Latex Spheres Deposited on Polished or Epitaxial Wafer Surfaces (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1621-96
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Practice for Determining the Positional Accuracy Capabilities of a Scanning Surface Inspection System (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1622-95(2000)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Test Method for Measuring the Torsional Properties of Metallic Bone Screws (Withdrawn 2001)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2000
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1623-96
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Terminology Relating to Thermal Imaging Products
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1623-96(2002)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Terminology Relating to Thermal Imaging Products
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.1996
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
