ASTM - Americké technické normy - strana 8065

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8065

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 8065" dle:    


ASTM F1722-96(2003) Historická

Standard Test Method for Determining Mass and Moment of Inertia of Alpine Skis

NEPLATNÁ vydána dne 10.2.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 608.90


SKLADEM
ASTM F1723-02 Historická

Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 797.00


SKLADEM
ASTM F1723-96 Historická

Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy

NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 797.00


SKLADEM
ASTM F1724-01 Historická

Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 797.00


SKLADEM
ASTM F1724-96 Historická

Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 797.00


SKLADEM
ASTM F1725-02 Historická

Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 608.90


SKLADEM
ASTM F1725-97 Historická

Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 608.90


SKLADEM
ASTM F1726-02 Historická

Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 608.90


SKLADEM
ASTM F1726-97 Historická

Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 608.90


SKLADEM
ASTM F1727-02 Historická

Standard Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 608.90


SKLADEM

Zobrazen záznam od 80640 až 80650 z celkem 90109 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.