Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Determining Mass and Moment of Inertia of Alpine Skis
NEPLATNÁ vydána dne 10.2.2003
Vybrané provedení:Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002
Vybrané provedení:Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001
Vybrané provedení:Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997
Vybrané provedení:Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Guide for Analyis of Crystallographic Perfection of Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997
Vybrané provedení:Standard Practice for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 28.11.2025 (Počet položek: 2 248 688)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.