Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Specification for Iron-Nickel-Cobalt Alloys for Metal-to-Ceramic Sealing Applications
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.1999
Vybrané provedení:Standard Specification for Iron-Nickel-Cobalt Alloys for Metal-to-Ceramic Sealing Applications
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2005
Vybrané provedení:Standard Specification for Iron-Nickel-Cobalt Alloys for Metal-to-Ceramic Sealing Applications
NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2010
Vybrané provedení:Standard Specification for Iron-Nickel-Cobalt Alloys for Metal-to-Ceramic Sealing Applications
NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2015
Vybrané provedení:Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (approximately equal10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2011
Vybrané provedení:Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (approximately equal10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
NEPLATNÁ vydána dne 1.3.2018
Vybrané provedení:Standard Guide for Use of an X-Ray Tester ([approximate]10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.1999
Vybrané provedení:Standard Guide for Use of an X-Ray Tester ([approximate]10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2005
Vybrané provedení:Standard Guide for Use of an X-Ray Tester ([approximate]10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits (Includes all amendments And changes 10/20/2011).
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2005
Vybrané provedení:Standard Practice for Evaluation of Metallic Weapons Detectors for Controlled Access Search and Screening
NEPLATNÁ vydána dne 1.2.2004
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 25.01.2026 (Počet položek: 2 257 482)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.