(1749.70 CZK)
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy ASTM - Americké technické normy - strana 7966
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
ASTM F1390-02
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1390-97
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1391-93(2000)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Content of Silicon by Infrared Absorption (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1392-00
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1392-02
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1393-02
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1393-92(1997)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1992
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1394-92(1999)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determination of Particle Contribution from Gas Distribution System Valves
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1999
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1394-92(2005)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determination of Particle Contribution from Gas Distribution System Valves
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2005
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1394-92(2012)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determination of Particle Contribution from Gas Distribution System Valves
NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2012
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
