(1571.80 CZK)
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy ASTM - Americké technické normy - strana 7913
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
ASTM F1259M-96(2003)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F126
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Definitions of Terms Relating to Which Relate to the Use and Testing of Ferrite Memory Cores and Memory Core Arrays (Withdrawn 1976)
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1260-89
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1989
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1260M-96
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1260M-96(2003)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1261M-96
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1261M-96(2003)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric] (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1996
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1262M-14
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1262M-95
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
NEPLATNÁ vydána dne 10.11.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1262M-95(2002)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
