(1571.80 CZK)
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy ASTM - Americké technické normy - strana 7906
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
ASTM F1238-95(1999)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Specification for Refractory Silicide Sputtering Targets for Microelectronic Applications
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1999
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1238-95(2003)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Specification for Refractory Silicide Sputtering Targets for Microelectronic Applications
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1999
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1238-95(2011)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Specification for Refractory Silicide Sputtering Targets for Microelectronic Applications (Withdrawn 2020)
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2011
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1239-02
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Methods for Oxygen Precipitation Characterization of Silicon Wafers by Measurement of Interstitial Oxygen Reduction (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1239-94
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Methods for Oxygen Precipitation Characterization of Silicon Wafers by Measurement of Interstitial Oxygen Reduction
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F124
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Test Method for Coincident Current Memory Core Stacks (Withdrawn 1976)
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1240-01
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Guide for Ranking Footwear Bottom Materials on Contaminated Walkway Surfaces According to Slip Resistance Test Results
NEPLATNÁ vydána dne 10.10.2001
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1240-01(2009)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Guide for Ranking Footwear Bottom Materials on Contaminated Walkway Surfaces According to Slip Resistance Test Results (Withdrawn 2018)
NEPLATNÁ vydána dne 15.1.2009
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1240-89(1995)e1
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Guide for Ranking Footwear Bottom Materials on Contaminated Walkway Surfaces According to Slip Resistance Test Results (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 10.10.2001
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1241-95(2000)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Terminology of Silicon Technology (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
