Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Methods for Photoluminescence Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Standard Specification for Wrought 18 Chromium-14 Nickel-2.5 Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Standard Specification for Wrought 18 Chromium-14 Nickel-2.5 Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2003
Vybrané provedení:Standard Specification for Wrought 18Chromium-14Nickel-2.5Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
NEPLATNÁ vydána dne 1.2.2008
Vybrané provedení:Standard Specification for Wrought 18Chromium-14Nickel-2.5Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2012
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.1997
Vybrané provedení:Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Content of Silicon by Infrared Absorption (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 28.04.2024 (Počet položek: 2 896 137)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.