ASTM - Americké technické normy - strana 7451

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 7451

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 7451" dle:    


ASTM F1151-88(2003) Historická

Standard Test Method for Determining Variations in Hardness of Film Ribbon Pancakes

NEPLATNÁ vydána dne 27.5.1988

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 564.70


SKLADEM
ASTM F1151-88(2008) Historická

Standard Test Method for Determining Variations in Hardness of Film Ribbon Pancakes (Withdrawn 2015)

NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2008

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 564.70


SKLADEM
ASTM F1152-02 Historická

Standard Test Method for Dimensions of Notches on Silicon Wafers (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 564.70


SKLADEM
ASTM F1152-93 Historická

Standard Test Method for Dimensions of Notches on Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 564.70


SKLADEM
ASTM F1152-93(2001) Historická

Standard Test Method for Dimensions of Notches on Silicon Wafers

NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 564.70


SKLADEM
ASTM F1153-92(1997) Historická

Standard Test Method for Characterization of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Structures by Capacitance-Voltage Measurements

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1992

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 778.00


SKLADEM
ASTM F1153-92(2002) Historická

Standard Test Method for Characterization of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Structures by Capacitance-Voltage Measurements (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 15.5.1992

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 778.00


SKLADEM
ASTM F1154-10 Historická

Standard Practices for Qualitatively Evaluating the Comfort, Fit, Function, and Durability of Protective Ensembles and Ensemble Components+

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 778.00


SKLADEM
ASTM F1154-11 Historická

Standard Practices for Qualitatively Evaluating the Comfort, Fit, Function, and Durability of Protective Ensembles and Ensemble Components

NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 778.00


SKLADEM
ASTM F1154-18 Historická

Standard Practices for Evaluating the Comfort, Fit, Function, and Durability of Protective Ensembles, Ensemble Elements, and Other Components

NEPLATNÁ vydána dne 15.7.2018

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 778.00


SKLADEM

Zobrazen záznam od 74500 až 74510 z celkem 85592 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.