Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Test Method for Measurement and Calculation of Reflecting Characteristics of Metallic Surfaces Using Integrating Sphere Instruments (Withdrawn 1996)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1991
Vybrané provedení:Recommended Practice for Identification of Crystaline Materials by the Hanawalt X-Ray Diffraction Method (Withdrawn 1962)
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Abridged Goniophotometry
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2005
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Abridged Goniophotometry
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2011
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Abridged Goniophotometry
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2019
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Goniophotometry
NEPLATNÁ vydána dne 10.7.1997
Vybrané provedení:Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Goniophotometry
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2003
Vybrané provedení:Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1996
Vybrané provedení:Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1996
Vybrané provedení:Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2007
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 15.05.2024 (Počet položek: 2 900 316)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.