ASTM - Americké technické normy - strana 6737

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 6737

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 6737" dle:    


ASTM E1161-09 Historická

Standard Practice for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2009

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 789.00


SKLADEM
ASTM E1161-09(2014) Historická

Standard Practice for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2014

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 789.00


SKLADEM
ASTM E1161-95 Historická

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 601.80


SKLADEM
ASTM E1162-06 Historická

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2006

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 601.80


SKLADEM
ASTM E1162-11 Historická

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 601.80


SKLADEM
ASTM E1162-87(1996) Historická

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

NEPLATNÁ vydána dne 24.4.1987

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 601.80


SKLADEM
ASTM E1162-87(2001) Historická

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

NEPLATNÁ vydána dne 24.4.1987

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 601.80


SKLADEM
ASTM E1163-10 Historická

Standard Test Method for Estimating Acute Oral Toxicity in Rats

NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 601.80


SKLADEM
ASTM E1163-10(2016) Historická

Standard Test Method for Estimating Acute Oral Toxicity in Rats

NEPLATNÁ vydána dne 1.2.2016

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 601.80


SKLADEM
ASTM E1163-98 Historická

Standard Test Method for Estimating Acute Oral Toxicity in Rats

NEPLATNÁ vydána dne 10.10.1998

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 601.80


SKLADEM

Zobrazen záznam od 67360 až 67370 z celkem 91263 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.