Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Specification for Coded Values Used in the Electronic Health Record (Includes all amendments And changes 3/18/2015).
NEPLATNÁ vydána dne 15.4.2013
Vybrané provedení:Standard Specification for Coded Values Used in the Electronic Health Record (Withdrawn 2017) (Includes all amendments And changes 4/20/2017).
NEPLATNÁ vydána dne 15.4.2013
Vybrané provedení:Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements
NEPLATNÁ vydána dne 10.4.2002
Vybrané provedení:Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2007
Vybrané provedení:Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2011
Vybrané provedení:Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements
NEPLATNÁ vydána dne 10.4.2002
Vybrané provedení:Standard Practice for Reporting Imaging Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2006
Vybrané provedení:Standard Practice for Reporting Imaging Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2011
Vybrané provedení:Standard Practice for Reporting Imaging Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2000
Vybrané provedení:Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2004
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 17.07.2024 (Počet položek: 2 336 011)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.