Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Guide for Recording Mechanical Test Data of Fiber-Reinforced Composite Materials in Databases
NEPLATNÁ vydána dne 10.3.2000
Vybrané provedení:Standard Guide for Recording Mechanical Test Data of Fiber-Reinforced Composite Materials in Databases
NEPLATNÁ vydána dne 15.1.2006
Vybrané provedení:Standard Guide for Recording Mechanical Test Data of Fiber-Reinforced Composite Materials in Databases (Withdrawn 2015)
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2013
Vybrané provedení:Standard Practice for Handling Densified Articles of Aluminum Oxide Reinforced with Silicon Carbide Whiskers (Withdrawn 2007)
NEPLATNÁ vydána dne 10.4.1998
Vybrané provedení:Standard Practice for Handling Densified Articles of Silicon Nitride Reinforced with Silicon Carbide Whiskers (Withdrawn 1997)
Vybrané provedení:Standard Practice for Handling Silicon Carbide Whiskers (Withdrawn 2007)
NEPLATNÁ vydána dne 10.4.1998
Vybrané provedení:Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2006
Vybrané provedení:Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2011
Vybrané provedení:Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
NEPLATNÁ vydána dne 15.9.1991
Vybrané provedení:Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
NEPLATNÁ vydána dne 15.9.1991
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 23.08.2024 (Počet položek: 2 344 716)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.