Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN IEC 60749-37:2022
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2023.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.1.2023
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN IEC 60749-37:2022
Datum vydání normy: 1.1.2023
Kód zboží: NS-1122276
Počet stran: 29
Přibližná hmotnost: 87 g (0.19 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
