Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2022.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.5.2022
Označení normy: UNE-EN IEC 60749-28:2022
Datum vydání normy: 1.5.2022
Kód zboží: NS-1122274
Počet stran: 57
Přibližná hmotnost: 171 g (0.38 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Poslední aktualizace: 02.10.2026 (Počet položek: 2 304 304)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.