Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 62415:2010
Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.9.2010
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 62415:2010
Datum vydání normy: 1.9.2010
Kód zboží: NS-1120999
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
