Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 62374:2007
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007). (Endorsed by AENOR in February of 2008.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.11.2013
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 62374:2007
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2013
Kód zboží: NS-1120950
Počet stran: 25
Přibližná hmotnost: 75 g (0.17 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
