Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 62374-1:2010
Semiconductor devices -- Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.3.2011
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 62374-1:2010
Datum vydání normy: 1.3.2011
Kód zboží: NS-1120949
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
