Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (Endorsed by AENOR in September of 2011.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.9.2011
Označení normy: UNE-EN 62047-8:2011
Datum vydání normy: 1.9.2011
Kód zboží: NS-1120558
Počet stran: 21
Přibližná hmotnost: 63 g (0.14 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Poslední aktualizace: 13.10.2026 (Počet položek: 2 304 853)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.