Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 62047-3:2006
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing (IEC 62047-3:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.1.2007
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 62047-3:2006
Datum vydání normy: 1.1.2007
Kód zboží: NS-1120553
Počet stran: 12
Přibližná hmotnost: 36 g (0.08 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
