Norma UNE-EN 62047-17:2015 1.8.2015 náhled

UNE-EN 62047-17:2015

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (Endorsed by AENOR in August of 2015.)

Přeložit název

NORMA vydána dne 1.8.2015


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1778.30 bez DPH
1 778.30

Informace o normě:

Označení normy: UNE-EN 62047-17:2015
Datum vydání normy: 1.8.2015
Kód zboží: NS-1120544
Počet stran: 31
Přibližná hmotnost: 93 g (0.21 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE

Kategorie - podobné normy:

Ostatní polovodičová zařízení

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.