Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (Endorsed by AENOR in August of 2015.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.8.2015
Označení normy: UNE-EN 62047-17:2015
Datum vydání normy: 1.8.2015
Kód zboží: NS-1120544
Počet stran: 31
Přibližná hmotnost: 93 g (0.21 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Poslední aktualizace: 13.10.2026 (Počet položek: 2 304 853)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.