Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (Endorsed by AENOR in June of 2012.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.6.2012
Označení normy: UNE-EN 62047-13:2012
Datum vydání normy: 1.6.2012
Kód zboží: NS-1120541
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Poslední aktualizace: 08.09.2026 (Počet položek: 2 300 134)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.