Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 62047-12:2011
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures (Endorsed by AENOR in February of 2012.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.2.2012
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 62047-12:2011
Datum vydání normy: 1.2.2012
Kód zboží: NS-1120540
Počet stran: 33
Přibližná hmotnost: 99 g (0.22 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
