Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems (Endorsed by AENOR in November of 2013.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.11.2013
Označení normy: UNE-EN 62047-11:2013
Datum vydání normy: 1.11.2013
Kód zboží: NS-1120539
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Poslední aktualizace: 13.10.2026 (Počet položek: 2 304 853)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.