Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-44:2016
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.12.2016
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-44:2016
Datum vydání normy: 1.12.2016
Kód zboží: NS-1118074
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
