Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2017.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 10.10.2024
Označení normy: UNE-EN 60749-43:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.10.2024
Kód zboží: NS-1203590
Počet stran: 46
Přibližná hmotnost: 138 g (0.30 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Poslední aktualizace: 14.01.2026 (Počet položek: 2 254 595)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.