NEPLATNÁ UNE-EN 60749-37:2008 17.11.2025 náhled

UNE-EN 60749-37:2008

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by AENOR in July of 2008.)

Přeložit název

NORMA vydána dne 17.11.2025


Jazyk
Provedení
Dostupnostdo 7 pracovních dnů
Cena1600.10 bez DPH
1 600.10

Informace o normě:

Označení normy: UNE-EN 60749-37:2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 17.11.2025
Kód zboží: NS-1249602
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE



Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.