Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.1.2007
Označení normy: UNE-EN 60749-35:2006
Datum vydání normy: 1.1.2007
Kód zboží: NS-1118066
Počet stran: 25
Přibližná hmotnost: 75 g (0.17 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Poslední aktualizace: 04.09.2026 (Počet položek: 2 300 131)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.