Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-3:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 3: Vnější vizuální kontrola.
NORMA vydána dne 30.5.2003
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-3:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.5.2003
Kód zboží: NS-561003
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
