Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-29:2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 29: Latch-up test
Přeložit název
NORMA vydána dne 9.7.2004
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-29:2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 9.7.2004
Kód zboží: NS-1118062
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Doporučujeme:
