Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-28:2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2017.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 6.4.2025
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-28:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 6.4.2025
Kód zboží: NS-1218130
Počet stran: 52
Přibližná hmotnost: 156 g (0.34 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Doporučujeme:
