Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-20:2009
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Přeložit název
NORMA vydána dne 6.10.2023
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-20:2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 6.10.2023
Kód zboží: NS-1158355
Počet stran: 31
Přibližná hmotnost: 93 g (0.21 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
