Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 60749-16:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 16: Zjišťování šumu způsobeného nárazem částic (PIND).
NORMA vydána dne 21.11.2003
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 60749-16:2003
Datum vydání normy: 21.11.2003
Kód zboží: NS-560992
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Kategorie - podobné normy:
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
