Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE-EN 15991:2015
Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) (Endorsed by AENOR in January of 2016.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.11.2025
Informace o normě:
Označení normy: UNE-EN 15991:2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2025
Kód zboží: NS-1249556
Počet stran: 27
Přibližná hmotnost: 81 g (0.18 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
