Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) (Endorsed by AENOR in January of 2016.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.11.2025
Označení normy: UNE-EN 15991:2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2025
Kód zboží: NS-1249556
Počet stran: 27
Přibližná hmotnost: 81 g (0.18 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 02.11.2026 (Počet položek: 2 209 038)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.