Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.1.2016
Označení normy: UNE-EN 15991:2011
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.2016
Kód zboží: NS-1108328
Počet stran: 29
Přibližná hmotnost: 87 g (0.19 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 28.08.2026 (Počet položek: 2 298 625)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.