Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
STN 358755 (358755)
Meranie polovodičových prvkov. Tranzistory. Meranie reálnej zložky vstupnej impedancie nakrátko.
Automaticky přeložený název:
Měření polovodičových prvků. Tranzistory. Měření reálné složky vstupní impedance nakrátko.
NORMA vydána dne 1.3.1970
| Provedení |
|
| Dostupnost | Prodej skončil |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: STN 358755
Třídící znak: 358755
Katalogové číslo: 59274
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.3.1970
Kód zboží: NS-495894
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Slovenská technická norma
Kategorie: Technické normy STN
Doporučujeme obdobnou normu!
ČSN 358755 (11.03.1970)Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
