Norma SAE GEIAGEB0002 1.10.2014 náhled

SAE GEIAGEB0002

Reducing the Risk of Tin Whisker-Induced Failures in Electronic Equipment

Přeložit název

NORMA vydána dne 1.10.2014


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2855.60 bez DPH
2 855.60

Informace o normě:

Označení normy: SAE GEIAGEB0002
Datum vydání normy: 1.10.2014
Kód zboží: NS-838781
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy SAE

Anotace textu normy SAE GEIAGEB0002 :

This Bulletin provides a brief description of tin whisker formation and describes various methods recommended by government and industry to reduce the risk of tin whisker-induced failures in electronic hardware. It is not a mandate nor does it contain any requirements.

A tin whisker is a single crystal that emerges from tin-finished surfaces. Tin whiskers can pose a serious reliability risk to electronic assemblies that have pure tin finish. The general risks fall into several categories: [1, 2, 3, 8, 16]

Short Circuits: The whisker can create a short circuit, either by 1) growing from an area at one potential to an area at another or 2) breaking free and later bridging these areas. In some cases, these shorts may be permanent and cause catastrophic system failures. A transient short may result if the available current exceeds the fusing current of the whisker, and the whisker can fuse open. The amount of current needed to fuse open the whisker depends on the atmospheric pressure and the diameter of the whisker.

Low-pressure-Induced Metal Vapor Arcing (Plasma): In low-pressure environments, even a transient short can result in a catastrophic failure. Under certain current and voltage conditions (current more than a few amps and supply voltage over 12 V), when a tin whisker fuses open, the vaporized tin may initiate arcing or a plasma. The plasma can conduct over 200 A and may continue until all the available exposed tin is consumed or the supply current is interrupted. [1, 8]

Debris/Contamination: The tin whisker’s small diameter may allow it break free under handling or other vibration. A free floating whisker may cause the same problems typically associated with free floating particles, i.e., interfering with the movement of mechanical parts or contaminating optical surfaces. [1, 8]

SUBJECT TAXONOMY: Failure modes and effects analysis, Electronic equipment, Tin alloys, Parts

SUBFILE: Aerospace

TYPE OF DOCUMENT: Aerospace Standard

Stabilized: Oct 2014 SAE - Standards Status Definitions

Doporučujeme:

Aktualizace zákonů

Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.