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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule (( IEC 60749-34-1:2025) EN IEC 60749-34-1:2025) (deutsche Fassung)
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NORMA vydána dne 1.8.2026
Označení normy: ÖVE EN IEC 60749-34-1
Datum vydání normy: 1.8.2026
Kód zboží: NS-1279314
Počet stran: 30
Přibližná hmotnost: 90 g (0.20 liber)
Země: Rakouská technická norma
Kategorie: Technické normy ÖNORM
Dieser Teil von IEC 60749 beschreibt ein Prüfverfahren, das zur Ermittlung der Widerstandsfähigkeit eines Leistungshalbleitermoduls gegen aus Lastwechselzyklen resultierende thermische und mechanische Beanspruchungen der im Gehäuse montierten Halbleiter wie auch der innen liegenden Verbinder verwendet wird. Er basiert auf IEC 60749-34, wurde jedoch speziell für Leistungshalbleitermodulprodukte entwickelt, darunter Bipolartransistoren mit isoliertem Gate (IGBT), Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET), Dioden und Thyristoren.
Poslední aktualizace: 26.08.2026 (Počet položek: 2 298 418)
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