Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS R1637:1998
Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
Přeložit název
NORMA vydána dne 31.1.1998
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS R1637:1998
Datum vydání normy: 31.1.1998
Kód zboží: NS-1081251
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
