Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS K0156:2018
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Přeložit název
NORMA vydána dne 20.8.2018
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS K0156:2018
Datum vydání normy: 20.8.2018
Kód zboží: NS-1078722
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
