Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS K0149-1:2019
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
Přeložit název
NORMA vydána dne 20.11.2019
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS K0149-1:2019
Datum vydání normy: 20.11.2019
Kód zboží: NS-1078715
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
