Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS H0617:2024
Test method for determination of low carbon impurity concentration in silicon single crystals by photoluminescence spectroscopy
Přeložit název
NORMA vydána dne 21.3.2024
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS H0617:2024
Datum vydání normy: 21.3.2024
Kód zboží: NS-1183408
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Polovodičové materiály
Nekovové nerosty
Ostatní neželezné kovy a jejich slitiny
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
